AN3077 datasheet(5/82 Pages) STMICROELECTRONICS

5 / 82 page

DocID16384 Rev 10

5/82

AN3077

List of tables

Table 1.

Temperature profile for packaged device . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9

Table 2.

Temperature profile for bare die device . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9

Table 3.

Software BIST and/or test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20

Table 4.

Software BIST and/or test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22

Table 5.

Software BIST and/or test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25

Table 6.

Software BIST and/or test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27

Table 7.

Software BIST and/or test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29

Table 8.

Software BIST and/or test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31

Table 9.

Software BIST and/or test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33

Table 10.

Software BIST and/or test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36

Table 11.

Software BIST and/or test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43

Table 12.

Software BIST and/or test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46

Table 13.

PMU monitored supplies. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50

Table 14.

Functional safety inputs for application example 1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59

Table 15.

Functional safety outputs for application example 1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60

Table 16.

Functional safety inputs for application example 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62

Table 17.

Functional safety outputs for application example 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63

Table 18.

Functional safety inputs for application example 3 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64

Table 19.

Functional safety outputs for application example 3 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66

Table 20.

Data pattern used by the ECC logic test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67

Table 21.

Physical pin displacement on internal die . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71

Table 22.

List of conventions and terminology . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74

Table 23.

Acronyms and abbreviations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74

Table 24.

Document revision history . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76

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