CDSCB10M7GA085-R0 datasheet(8/17 Pages) MURATA

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仕様書番号

Drawing No. JGM40-2135C

P. 8/17

株式会社　村　田　製　作　所

Murata Manufacturing Co.,Ltd. 　　

　　　　※

注意 : 製品はいずれの試験前後においても、チップ単体として測定します。

Note : Shall be measured without any additional components

for each of the above mentioned tests.

第１表

Table 1

　　　　　　　※　注意

: 各変化量は試験前の初期値を基準とします。

　　　　　　　　　Note

: The limits in the above table refer to

the initial measurements.

項

目

Item

試験条件

Test Condition

試験後の規格

Specification

After Test

8-3

高温放置

Dry Heat

(Storage)

温度+85

±2°Cの恒温槽中に1000時間保持し、常

温に取出して、1時間後に測定する。

Components

shall

left

chamber

(Temperature: +85

±2°C) for 1000 hours, then

measured after leaving in natural condition for 1

hour.

8-4

低温放置

Cold

(Storage)

温度-40

±2°Cの恒温槽中に1000時間保持し、常

温に取出して、1時間後に測定する。

Components

shall

left

chamber

(Temperature: -40

±2°C) for 1000 hours, then

measured after leaving in natural condition for 1

hour.

8-5

熱衝撃特性

Thermal Shock

温度 -55

°Cの恒温槽中に30分間保持後、温度

+85

°Cの恒温槽中に直ちに移し、30分間保持す

る。これを1サイクルとし、全200サイクル行

い、常温に取り出して1時間後に測定する｡

After performing 200 cycles of thermal test

(-55

°C 30 minutes to +85°C 30 minutes),

components shall be left in natural condition for

1 hour.

第１表を

満足します。

The measured

value shall meet

Table 1.

項

目

Item

規

格

Specification After Test

※ 中心周波数の変化

※

Center Frequency Drift

±30kHz 以内 / max.

※

復調出力電圧の変化

※

Recovered Audio Output Voltage Drift

±2dB 以内 / max.

CDSCB10M7GA085-R0 数据表(PDF) 8 Page - Murata Manufacturing Co., Ltd.

CDSCB10M7GA085-R0 数据表(HTML) 8 Page - Murata Manufacturing Co., Ltd.

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