SFH 480, SFH 481, SFH 482

2001-10-01

5

Gruppierung der Strahlstärke I

gemessen bei einem Raumwinkel

Ω = 0.01 sr

Grouping of Radiant Intensity I

at a solid angle of

Ω = 0.01 sr

Bezeichnung

Parameter

Symbol

Symbol

Wert

Value

Einheit

Unit

SFH

480-2

SFH

480-3

SFH

481

SFH

481-1

SFH

481-2

Strahlstärke

Radiant intensity

I

I

e max

> 40

–

> 63

–

≥ 10

–

10

20

16

–

mW/sr

mW/sr

Strahlstärke

Radiant intensity

I

540

630

220

130

220

mW/sr

Bezeichnung

Parameter

Symbol

Symbol

Wert

Value

Einheit

Unit

SFH

482

SFH

482-1

SFH

482-2

SFH

482-3

SFH

482-M

E 7800

1)

1)

Die Messung der Strahlstärke und des Halbwinkels erfolgt mit einer Lochblende vor dem Bauteil (Durchmesser der

Lochblende: 2.0 mm; Abstand Lochblende zu Gehäuserückseite: 5.4 mm). Dadurch wird sichergestellt, da

β bei der

Strahlstärkemessung nur diejenige Strahlung in Achsrichtung bewertet wird, die direkt von der Chipoberfläche

austritt. Von der Bodenplatte reflektierte Strahlung (vagabundierende Strahlung) wird dagegen nicht bewertet. Diese

Reflexionen sind besonders bei Abbildungen der Chipoberfläche über Zusatzoptiken störend (z.B. Lichtschranken

gro

βer Reichweite). In der Anwendung werden im allgemeinen diese Reflexionen ebenfalls durch Blenden

unterdrückt. Durch dieses, der Anwendung entsprechende Me

βverfahren ergibt sich für den Anwender eine besser

verwertbare Grö

βe. Diese Lochblendenmessung ist gekennzeichnet durch den Eintrag „E 7800“, der an die

Typenbezeichnung angehängt ist.

1)

An aperture is used in front of the component for measurement of the radiant intensity and the half angle (diameter

of the aperture: 1.1 mm; distance of aperture to case back side: 4 mm). This ensures that solely the radiation in axial

direction emitting directly from the chip surface will be evaluated during measurement of the radiant intensity.

Radiation reflected by the bottom plate (stray radiation) will not be evaluated. These reflections impair the projection

of the chip surface by additional optics (e.g. long-range light reflection switches). In respect of the application of the

component, these reflections are generally suppressed by apertures as well. This measuring procedure

corresponding with the application provides more useful values. This aperture measurement is denoted by “E 7800”

added to the type designation.

Strahlstärke

Radiant intensity

I

I

e min

≥ 3.15

–

3.15

6.3

5

10

8

–

1.6 ... 3.2

–

mW/sr

mW/sr

Strahlstärke

Radiant intensity

I

–

40

65

80

–

mW/sr