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INTRODUCTION . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1

1 EMC DEFINITIONS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4

1.1 EMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4

1.2 EMS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4

1.3 EMI . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4

2 EMC CHARACTERIZATION OF ST MICROCONTROLLERS . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5

2.1 ELECTROMAGNETIC SUSCEPTIBILITY (EMS) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5

2.1.1 Functional EMS test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5

2.1.1.1 Functional ElectroStatic Discharge Test (F_ESD Test) . . . . . . . . . 5

2.1.1.2 Fast Transient Burst (FTB) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7

2.1.1.3 ST Severity Level & Behavior Class . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8

2.1.2 Latch-Up (LU) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10

2.1.2.1 Static Latch-Up (LU) test: . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10

2.1.2.2 Dynamic Latch-Up (DLU) test: . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10

2.1.3 Absolute Electrical Sensitivity . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11

2.1.3.1 Human Body Model Test Sequence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12

2.1.3.2 Machine Model Test Sequence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12

2.2 ELECTROMAGNETIC INTERFERENCE (EMI) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13

2.2.1 EMI radiated test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13

2.2.2 EMI level classification . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16

3 ST MCU DESIGN STRATEGY & EMC SPECIFIC FEATURE . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17

3.1 SUSCEPTIBILITY . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17

3.1.1 Low Voltage Detector (LVD) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17

3.1.2 Auxiliary Voltage Detector (AVD) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19

3.1.3 I/O Features & properties . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21

3.1.3.1 Electrostatic Discharge and Latch-up . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21

3.1.3.2 Protective Interface . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22

3.1.3.3 Internal Circuitry: Digital I/O pin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23

3.1.3.4 Internal Circuitry: Analog Input pin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25

3.1.4 Multiple VDD & VSS. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26

3.2 EMISSION . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27

3.2.1 Internal PLL . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27

3.2.2 Global low power approach . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27

3.2.2.1 Low powered oscillator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27

3.2.2.2 Internal Voltage Regulators (for MCUs with low power core). . . . 29