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LP2996 数据表(PDF) 4 Page - National Semiconductor (TI) |
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LP2996 数据表(HTML) 4 Page - National Semiconductor (TI) |
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4 / 18 page ![]() 4 www.national.com/jpn/ 電気的特性 ( つづき) 標準字体で記載された仕様は TJ = 25 ℃の場合であり、太字で記載されたリミット値は「動作温度範囲」 (TJ = 0° C ∼+ 125° C) に適 用されます (Note 4)。 特記のない限り、AVIN = PVIN = 2.5V、VDDQ = 2.5V です (Note 5)。 Note 1: 「絶対最大定格」とは、デバイスが破壊する可能性のあるリミット値をいいます。「動作定格」とはデバイスが正しく機能する条件を示しますが、特定の 性能限界を保証するものでありません。 保証された仕様、およびそのテスト条件については「電気的特性」を参照してください。 仕様の保証は、表記 のテスト条件にのみ適用されます。 記載のテスト条件以外でデバイスを動作させると、性能特性が低下することがあります。 Note 2: 使用したテスト回路は人体モデルに基づき、100pF のコンデンサから直列抵抗 1.5kΩを通して各端子に放電させます。 Note 3: 高温では、熱抵抗に基づいてデバイスをディレーティングする必要があります。SO-8 パッケージでは、ヒート・シンクなしで接合部から周囲への熱抵抗θJA = 151.2 ℃ /W でディレーティングしてください。 Note 4: 25 ℃時のリミット値は 100%テストされます。 全動作温度範囲におけるリミット値は、統計的品質管理 (SQC) 方式によって決められた補正データを加味し て保証されています。これらのリミット値は、ナショナル セミコンダクター社の平均出荷品質レベル (AOQL) の計算に使用されます。 Note 5: VIN は、VIN = AVIN = PVINとして定義されます。 Note 6: 非動作時電流は AVIN に流れ込む電流として定義されています。 Note 7: 最大許容消費電力は、最大接合部温度 TJ (MAX)、接合部・周囲間熱抵抗θJA、周囲温度 TA の関数です。 最大許容消費電力を超えると、ダイ温 度が極端に上昇してレギュレータはサーマル・シャットダウン状態に入ります。 Note 8: VTT 負荷レギュレーションは 10ms の電流パルスを用いて VTT を測定しテストされています。 |
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